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钼:AI时代芯片制造跃迁的关键金属

在人工智能、边缘计算与智能设备性能升级的驱动下,2024年全球半导体芯片产量突破惊人的1万亿颗,但在这一数字背后,行业正迫切突破物理极限,以满足高性能计算需求。其中,芯片制造中的金属化工艺革新成为关键突破口,而钼作为新一代金属材料,正引领这场制造革命。 

一、芯片金属化工艺的瓶颈与钼的突破

芯片制造的七大核心环节中,金属化负责在芯片上沉积金属层以形成电信号通路,其重要性随3D NAND堆叠层数增加和逻辑芯片线宽缩小而显著提升。过去25年,钨一直是互连工艺的主力材料,但在AI时代的先进制程中,其局限性日益凸显: 

电阻瓶颈:纳米尺度下,钨的高电阻率导致信号延迟增加,尤其在3D NAND的字线(Wordline)连接中,电阻问题成为性能提升的主要障碍。 

工艺复杂:钨互连需额外的阻挡层(Barrier Layer)防止金属扩散,增加了制造步骤和成本。 

可扩展性受限:随着器件尺寸缩小和堆叠层数增加,钨的沉积均匀性和可靠性难以满足下一代芯片需求。 

钼的三大核心优势使其成为理想替代材料: 

1.更低的纳米级电阻率:在先进制程节点下,钼的电阻率比钨低30%以上,可显著提升信号传输速度。 

2.无阻挡层工艺:钼与半导体材料的兼容性无需额外阻挡层,简化工艺流程并降低缺陷率。 

3.卓越的可扩展性:适用于3D NAND、DRAM和逻辑芯片的多层堆叠与精细互连,应对未来更复杂的器件结构。 

图:钼:AI时代芯片制造跃迁的关键金属

图:钼:AI时代芯片制造跃迁的关键金属

二、钼工艺的产业化突破:从技术到量产 

长期以来,钼未能应用于金属化工艺的核心挑战在于原子层沉积(ALD)技术瓶颈。传统ALD难以处理钼的固态前驱体(Solid Precursor),且需满足不同芯片类型(如NAND的垂直/水平字线、逻辑芯片的低温沉积)的差异化需求。 

泛林集团(Lam Research)的ALTUS® Halo设备打破了这一僵局: 

全球首款钼ALD工具:通过固态前驱体输送系统与先进硬件设计,实现原子级精确沉积。 

性能跃升:相比钨工艺,钼互连的字线电阻降低50%以上,同时提升沉积均匀性和产率。 

量产落地:ALTUS® Halo已应用于高容量3D NAND和先进逻辑芯片工厂,美光(Micron)等行业巨头率先采用其生产下一代NAND产品,DRAM领域的应用研发也在推进中。 

三、钼对半导体产业的战略意义

1.性能与经济的双重突破

对终端产品而言,钼互连芯片可提升AI推理速度、降低边缘设备功耗,直接赋能自动驾驶、智能终端等场景。 

对制造端而言,简化的工艺流程和更高的良率可降低单位芯片成本,据行业预测,钼工艺在3D NAND中的普及有望使每Gb存储成本降低10-15%。 

2.材料创新驱动产业变革

随着摩尔定律放缓, “材料替代”成为延续芯片性能提升的核心路径。正如研究机构Counterpoint指出:“钼的应用不仅是材料的升级,更是先进芯片制造在性能与经济性上的转折点。” 泛林集团等企业通过技术突破,正将这一转折点转化为实际生产力,推动半导体行业向“后摩尔时代”迈进。 

四、未来展望:钼与AI芯片的共生演进 

AI算力需求的爆发式增长,正倒逼芯片制造从“缩小线宽”转向“架构与材料创新”。钼作为兼具高性能与可扩展性的金属材料,其产业化进程将加速以下趋势: 

3D芯片堆叠普及:在100层以上的3D NAND和存算一体架构中,钼互连将成为标准配置。 

先进封装技术融合:与扇出型封装(Fan-Out)、系统级封装(SiP)结合,进一步提升芯片集成度。 

新兴应用拓展:在量子计算、光子芯片等前沿领域,钼的低电阻和高热稳定性可能开辟全新应用场景。 

结语

从硅基半导体到第三代半导体,材料创新始终是行业进步的底层驱动力。钼的崛起,标志着半导体制造从“尺寸微缩”向“材料革新”的战略转向。

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